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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATIONYOA-8406系列光谱透过率测量仪主要用于平面和曲面样品的光谱透过率快速测量。同时可以实时显示透过率曲线和半高宽。YOA-8406系列提供CMOS、CCD、InGaAs探测器版本，支持200-1700nm波长范围定制。二次开发套件支持用户集成和开发。
YOA-8406系列应用领域
滤光片和光学透镜的透过率
曲边红外孔径、镀膜反射镜、胶合反射镜和平行板的透射率
特征
提供CMOS、CCD和InGaAs探测器版本。
支持200-1700nm范围深度定制。
智能化软件设计，简单易用。
支持系统集成和二次开发。
范围
| 姓名 | 光谱透过率测量仪 |
| 波长范围 | 200-1700nm范围内可定制 |
| 探测器 | 2048像素，线阵CCD |
| 像素尺寸：8 µm*200µm | |
| 信噪比 | 600:01:00 |
| 广告 | 16位 |
| 光学分辨率 | ~2nm （根据配置） |
| 钨丝灯 | 2000小时（典型） |
| 生活 | |
| 稳定 | ±0.5% |
| 测量范围 | 1%-100% |
| 波长精度（nm） | ±0.34nm |
| 通讯接口 | USB2.0 |
| 电源 | 15VDC，3A |
典型数据
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